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温度均匀性在光刻工艺中的烘烤固化过程中至关重要,我们该如何校准温场均匀性

  • 分类: 行业知识
  • 作者:管理员
  • 来源:本站
  • 发布时间:2025-05-15
  • 访问量: 13

【概要描述】温度均匀性在光刻工艺中的烘烤固化过程中至关重要,它直接影响光刻胶的固化质量和最终的图案质量。温度曲线···

温度均匀性在光刻工艺中的烘烤固化过程中至关重要,我们该如何校准温场均匀性

【概要描述】温度均匀性在光刻工艺中的烘烤固化过程中至关重要,它直接影响光刻胶的固化质量和最终的图案质量。温度曲线···

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温度均匀性在光刻工艺中的烘烤固化过程中至关重要,它直接影响光刻胶的固化质量和最终的图案质量。


温度曲线控制图案质量的影响


在光刻胶PI固化过程中,不同类型的光刻胶PI具有特定的固化温度曲线,一般烤箱可预设温度曲线,而不是不是线性加热精确控制升温速率、保温时间和降温速率。以确保固化反应均匀进行,避免因温度变化过快导致光刻胶内部产生应力,影响图案质量。


同时精准的温度控制可保证晶圆各部分受热均匀,防止因局部过热或过冷造成晶圆变形或内部结构损坏,从而提高晶圆的良品率。

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温度均匀性对固化质量的影响

 

温度均匀对于光刻胶PI固化和半导体晶圆烘烤至关重要,因为温度不均匀可能导致光刻胶固化程度不一致,影响光刻图案的精度,以及使半导体晶圆内部产生应力,降低晶圆的电学性能和机械性能。

 

半导体制造工艺在真空无氧环境下均匀烘烤,光刻胶PI的固化反应更加纯净、均匀,光刻图案的边缘清晰度和精度得到提升,从而有助于制造出更加精细、高性能的半导体器件。

230831-TC-Wafer 校准仪用于尤尼坦6吋退火炉-敏芯 (3).jpg

TC-Wafer校准仪对工艺温度的校准

 

通过TC-Wafer校准仪可以对烘烤固化过程中温度均匀性精准的实时测定,来辅助对设备控温进行调整,达到合适的温度曲线。


测温准确温度分辨率0.1℃、采集周期为200ms能准确测量晶圆温场均匀性

显示直观支持20路实时测量(可定制)显示实时点位图及温度分布图,可在使用过程中实时观察各点温度变化;

使用便捷仪器集成度高,即插即用,配备磁吸支架可贴靠于设备表面。测试记录完整数据,并能自动生成测试报告

功能强大10000条历史数据存储量,能以图表形式调阅历史温度和均匀性数据。可做同一台设备不同时间段、以及不同设备同一配方的数据对比


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