薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
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产品特点
● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。
● 测试环境温度范围达到81K~700K。
● 采用动态法测 量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。
● 采用四线法测量电阻率。
● 卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率。
● 软件操作简单，智能化可实现全自动模式。
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