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热电参数测试系统(Namicro-3)

热电参数测试系统Namicro-3采用动态法(具有专利技术-专利号:ZL201811242049.2发明专利)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。Namicro-3主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
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产品特点

● 拥有独立知识产权,获得多项技术专利。

● 温度范围:室温-800℃(环境温度)。

● 采用动态法测量Seebeck系数,避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差,测量更准确。

● 热电偶不直接和样品接触,避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。

● 炉壳过温报警,自动断电保护。

● 友好的软件界面,操作简单,实时显示采集数据、测试状态和结果,采用智能化数据存储及处理算法。



合作客户:

北京科技大学材料科学与工程学院
清华大学深圳研究生院
清华大学材料学院
盐城工学院材料工程学院
西华大学先进材料及能源研究中心
武汉工程大学材料学院
中国石油大学(北京)理学院
暨南大学物理学系
安徽工业大学冶金工程学院
上海应用技术学院材料科学与工程学院
广东工业大学物理与光电工程学院
太原理工大学材料科学与工程学院
成都理工大学材料与化学化工学院
长春理工大学长春理工大学材料学院
西北工业大学西北工业大学材料学院
广西大学物理科学与工程技术学院
中国科学院大学中国科学院大学
中国科技大学材料科学与工程学院
北京化工大学数理学院


Keyword:
热电参数测试仪
Seebeck系数
热电参数测试
变温热电参数测试

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