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热电参数测试系统(Namicro-3)

热电参数测试系统Namicro-3采用动态法(具有专利技术-专利号:ZL201811242049.2发明专利)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。Namicro-3主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
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产品特点

● 拥有独立知识产权,获得多项技术专利。

● 采用动态法测量Seebeck系数,避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差,测量更准确。

● 热电偶不直接和样品接触,避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。

● 炉壳过温报警,自动断电保护。

● 友好的软件界面,操作简单,实时显示采集数据、测试状态和结果,采用智能化数据存储及处理算法。

Keyword:
Seebeck系数
热电参数测试
变温热电参数测试
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