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热膨胀系数分析仪(TEA-3)

热膨胀系数分析仪采用创新的光干涉原理专利技术(专利号:ZL201410421128.5),可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
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产品特点

● 自主知识产权产品,拥有多项技术专利

● 基于光干涉原理的创新技术,通过照射到样品上下表面产生的两束反射光发生干涉,得到光功率随温度的变化曲线,通过计算得到材料的热膨胀系数

● 采用PID调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式,大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制

● 非接触式无损检测,测试精度高。

● 具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力。

Keyword:
热膨胀
薄膜材料
无损检测
新材料
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