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薄膜变温电阻测试仪(TRT)

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薄膜变温电阻测试仪(TRT)

产品名称

薄膜变温电阻测试仪(TRT)

薄膜变温电阻测试仪采用双电法测量高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率,可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温阻系数、样品相变温度点。其广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量。
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产品特点及应用
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薄膜变温电阻测试仪产品特点

 

采用高精度恒流源与电压表,确保测试的稳定性和精确性。

采用自适应PID温控。

自动检测样品接触特征曲线。

可在真空或气氛(惰性气体)环境下测量电阻随温度变化。

采用流行的USB2.0接口与计算机相连,数据采集迅速准确。

用户界面直观友好,操作方便,可实时动态显示采集数据及状态。

 
 

薄膜变温电阻测试仪应用功能

 

金属、半导体、导电高分子薄膜等材料电学性能随温度的变化

表征样品的均匀度

测量样品的相变温度点

 

 
 

电子科技大学ZrB2样品测试结果

 
 
 
 
 

大连理工CuNiFe样品测试结果

 
 
 
 
 

广州雷子克Bi2Te3样品测试结果

 
 
 
 
 
 

薄膜变温电阻测试仪技术参数

 

型号

TRT-1000

温度范围

RT~1000℃(自动控温,可连续采集)

电阻测量范围

1μΩ-100MΩ,准确度:±0.1%FS

温度测量精度

±0.5℃

恒流源

0.05μA~1A,准确度:±1%FS(FS为满量程值)

电压

1μV~300V,准确度:±1%FS(FS为满量程值)

测试的真空度

0.1~50Pa

样品尺寸

长 x 宽:(5~20)x(5~20),单位mm,厚度:10nm-3mm

测试软件

界面友好,操作方便;可实时显示采集数据、测试状态已经测试结果

主机尺寸

500 x 450 x 580,单位mm

 

暂未实现,敬请期待
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