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热电参数测试系统(Namicro-3)

Namicro-3采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 Namicro-3主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
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产品编号
所属分类
热物性产品

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温度范围:
响应时间:
数量
-
+
库存:
1
产品技术参数
型号 Namicro-3LT
温度范围 RT~800°C
温控方式 PID程序控制
最大升温速率 50°C/min
真空度 ≤50Pa
测试气氛 真空
测量范围 赛贝克系数:S ≥ 8µV/K;
电阻率:0.1µΩ•m ~ 106µΩ•m
分辨率 赛贝克系数:0.05µV/K;
电阻率:0.05µΩ•m
相对误差 赛贝克系数 ≤±7%,电阻率 ≤±5%
测量模式 自动
样品尺寸 块体,长x宽:(2~5) x (2~5) (mm);
高度:10 ~ 18 (mm)
主机尺寸 1000 x 400 x 500 (mm)
重量 75kg

 


 

 

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关键词:
动态法测量
四线法测量
热电测试
多项技术专利
Seebeck系数
过温报警
断电保护

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