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热电参数测试系统（Namicro-3）

产品名称

热电参数测试系统（Namicro-3）

热电参数测试系统采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。

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产品特点及应用

产品技术资料

便携式泽贝克系数测试仪(PTM)

石墨烯退火炉(GRTP)

型号	Namicro-3LT
温度范围	RT~800°C
温控方式	PID程序控制
最大升温速率	50°C/min
真空度	≤50Pa
测试气氛	真空
测量范围	泽贝克系数：S ≥ 8µV/K；电阻率：0.1µΩ•m ~ 106KµΩ•m
分辨率	泽贝克系数：0.05µV/K；电阻率：0.05µΩ•m
相对误差	泽贝克系数 ≤±7%，电阻率 ≤±5%
测量模式	自动
样品尺寸	块体，长x宽：(2~5) x (2~5)，单位mm；高度：10 ~ 18mm
主机尺寸	1000 x 400 x 500，单位mm
重量	75kg

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热电参数测试系统（Namicro-3）

热电参数测试系统（Namicro-3）

动态测量法

四探针法