热电参数测试系统（Namicro-3）

Namicro-3采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 Namicro-3主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。

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型号	Namicro-3LT
温度范围	RT~800°C
温控方式	PID程序控制
最大升温速率	50°C/min
真空度	≤50Pa
测试气氛	真空
测量范围	赛贝克系数：S ≥ 8µV/K；电阻率：0.1µΩ•m ~ 106µΩ•m
分辨率	赛贝克系数：0.05µV/K；电阻率：0.05µΩ•m
相对误差	赛贝克系数 ≤±7%，电阻率 ≤±5%
测量模式	自动
样品尺寸	块体，长x宽：(2~5) x (2~5) (mm)；高度：10 ~ 18 (mm)
主机尺寸	1000 x 400 x 500 (mm)
重量	75kg