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热膨胀系数分析仪(TEA)

热膨胀系数分析仪采用创新的光干涉原理专利技术,可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
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产品编号
所属分类
热物性产品

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1
产品技术参数
产品特点
相关应用
案例客户
型号 TEA-300 TEA1200 TEA-1800
温度范围 RT~300℃ RT~1200℃ RT~1800℃
程序升温重复性偏差 <1.0%
程序升温速率偏差 <1.0%
热膨胀系数测量精密度偏差 <4.5%
热膨胀系数测量正确度偏差 <±15%
最大工作功率 4.0kw
最大升温速度 50℃/s(50℃~1200℃、真空氛围),45℃/s℃/(50℃~1200℃,N₂氛围)
温度一致性 ±2.0℃(1200℃,真空),±4.5℃(1200℃,N₂)
制冷要求 水冷
热膨胀分辨率 266nm
未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加
产品特点
● 自主知识产权产品,拥有多项技术专利
● 基于光干涉原理的创新技术,通过照射到样品上下表面产生的两束反射光发生干涉,得到光功率随温度的变化曲线,通过计算得到材料的热膨胀系数
● 采用PID调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式,大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制
● 非接触式无损检测,测试精度高。
● 具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力。
Keyword:
热膨胀
薄膜材料
无损检测
新材料
武汉嘉仪通
嘉仪通科技

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