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热膨胀系数分析仪(TEA)

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热膨胀系数分析仪(TEA)

产品名称

热膨胀系数分析仪(TEA)

热膨胀系数分析仪采用创新的光干涉原理专利技术,可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
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TEA采用创新的光干涉原理专利技术,可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数,广泛应用于辅助各种新材料,尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。

 

热膨胀系数分析仪独特技术

自主知识产权产品,拥有多项技术专利。

基于光干涉原理的创新技术,通过照射到样品上下表面产生的两束反射光发生干涉,得到光功率随温度的变化曲线,通过计算得到材料的热膨胀系数。

采用PID调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式,大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制。

非接触式无损检测,测试精度高。

具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力。

热膨胀系数分析仪技术参数

 

型号

TEA-300

TEA1200

TEA-1800

温度范围

RT~300℃

RT~1200℃

RT~1800℃

程序升温重复性偏差

<1.0%

程序升温速率偏差

<1.0%

热膨胀系数测量精密度偏差

<4.5%

热膨胀系数测量正确度偏差

<±15%

最大工作功率

4.0kw

最大升温速度

50℃/s(50℃~1200℃、真空氛围),45℃/s℃/(50℃~1200℃,N₂氛围)

温度一致性

±2.0℃(1200℃,真空),±4.5℃(1200℃,N₂)

制冷要求

水冷

热膨胀分辨率

266nm

 

热膨胀系数分析仪样品要求

尺寸:长×宽5x5~20x20mm2,厚度2.0mm(含基底)以下为宜

适用于透光材料的热膨胀系数检测

具备光学反射双平面

检测样品的热膨胀量≥266nm

 

热膨胀系数分析仪测试原理

1.入射光 2.光束隔离器 3.投射光 4.待测样品 

 5.反射光 6.反射光 7.聚光镜 8.滤光片 9.光电传感器

光路原理图

  激光器射出的光线经分光镜照射到样品上表面,产生反射光,同时投射光照射到下表面也产生一束反射光,两束反射光在光电探测器处发生干涉,反射光功率发生周期性变化,得到光功率随材料温度的变化曲线,通过计算得到热膨胀系数。

 

 

暂未实现,敬请期待
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