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光功率热分析仪(OPA-3)

光功率热分析仪是世界首台纳米级薄膜材料物性分析仪,填补了国际对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技术空白!不仅可用于检测块体,还可检测低至1nm的薄膜材料。根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性检测材料的相变温度,依据光干涉原理检测透光材料的热膨胀系数,融合了相变温度分析仪和热膨胀系数分析仪的两项功能。
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 产品技术参数

型号 OPA-3
温度范围 RT~1200℃
程序升温重复性偏差 ≤1%(10℃/s,中间段)
程序升温速率偏差 ≤1%(10℃/s,中间段)
相变温度测量精密度偏差 ≤±3%
相变温度测量正确度偏差 ≤±3%
热膨胀系数测量精密度偏差 ≤±4.5%
热膨胀系数测量正确度偏差 ≤±15%
最大工作功率 4.0kw
制冷要求 水冷
相变薄膜材料检测厚度下限 1.0×10-9m
热膨胀分辨率 266nm
主机尺寸 540X414X365,单位mm
重量 35kg
未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加

光功率热分析仪样品要求

  ●尺寸:长×宽 5x5~20x20,单位mm,厚度2.0mm(含基底)以下为宜

  ●相变温度测试样品,具备光学反射平面

  ●热膨胀系数测试样品,具备光学反射双平面,适用于透光材料的热膨胀系数检测

  ●检测样品的热膨胀量≥266nm

  ●薄膜可选择适当基底,建议用20mmx20mmx1.5mm石英玻璃或硅片

 

 

嘉仪通踏实做好每一款产品的创新研发,产品相关技术参数可能因产品换代更新而发生变化。如遇上述情况,将不另行通知。

本网站产品资料仅供参考,不作交货时具有约束性的条件。

 

 

产品应用
● 各种材料相变温度(融化、软化、晶化等)的实时测定
● 新型材料(相变材料、相变储能材料)的稳定性测试及性能优化
● 强诱导体薄膜的结晶化退火
● 注入离子后的扩散退火
● 半导体材料的烧成与退火条件研究
● 玻璃基板的均热退火
● 热循环试验与热冲击试验
● 升温脱离试验与触媒试验
客户案例
● 清华大学     
● 中国计量科学研究院
……
Keyword:
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无损检测
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光功率
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