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武汉嘉仪通科技有限公司 版权所有       网站制作: 中企动力  武汉     鄂ICP备13008735号

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测试中心

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热电参数测试系统Namicro-3L

测试项目

 

  Seebeck系数和电阻率测试,同时测试块体热电材料的Seebeck系数以及电阻率

 

 

测试仪器介绍

 

  Namicro-3采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率,避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差。

 

测试范围或要求

 

  ●样品尺寸 长条形块体样品,长x宽:(2~5 )x(2~5),单位mm,高度:10~18mm

  ●温度范围 RT~800℃

  ●升温速率 ≤50℃/min

  ●测试气氛 真空,≤50Pa 

  ●测量范围 赛贝克系数:S ≥ 8µV/K; 电阻率:0.1µΩ•m ~ 106KµΩ•m

  ●分辨率 赛贝克系数:0.05µV/K; 电阻率:0.05µΩ•m

 

 

应用材料

 

  适用于包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物在内的多种块体热电材料。

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热电参数测试系统Namicro-3L

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